每年， PV Evolution Labs (PVEL)都会发布计分卡报告。从"2020年光伏组件可靠性计分卡"中，我们将一窥那些令人振奋的新发现。与去年一样，这一计分卡是与DNV GL联合发布的。
光伏组件可靠性计分卡综合比较了整个光伏行业的光伏组件可靠性测试结果，是公开发布的资料。2019年，PVEL在部分测试中设定了更高的基准。与往年相比，获评"最佳表现"的难度更高了。
2020年报告的标准有望再次提高。PV Tech与PVEL和DNVL GL合作举办了名为"表现最佳光伏组件：2020年光伏组件可靠性计分卡”的独家网络研讨会，参会免费。研讨会将于英国夏令时间5月28日的上午7点和17点举行。
PV Tech不仅只是此次会议的主办方和主持方。在2020年光伏组件可靠性计分卡中， PV Tech还会同时发布与重要进展及“最佳表现”光伏组件制造商相关的年度独立分析报告。
这是第六版光伏组件可靠性计分卡。基于在PV Evolution Labs产品认证计划中展现的性能，计分卡对市售光伏组件进行排名。
对2019年光伏组件可靠性计分卡的分析显示，与此前测试中的600个循环相比，今年的循环提高到了800个。组件在热循环试验中的性能提升了42%。
另一方面，PV-Tech指出，在湿热试验组件物料评估清单中，超过30%的评估对象不符合一项或多项试验标准。
对2019年测试报告中的最佳表现公司的分析显示，与此前报告相比，更严格的测试条件意味着，经过四个关键测试方案中的特定组件系列测试后，只有极少数光伏制造商能够真正获评最佳表现公司。
持续变化
众所周知，与十年前相比，光伏组件技术正以难以置信的速度向前发展。从硅片类型和尺寸的创新、先进电池结构、技术的采用到双面组件的广泛使用(仅仅是其中一部分创新内容)， 2019年或是光伏行业最活跃的一年。
当然，需要对这些创新进行严格的、实质意义上的可靠性测试，同时保持对成熟的可靠性测试的关注(例如严苛的湿热测试等)。
2020年洞察报告
.PAN文件
在PVEL自定义文件.PAN的基础上，“最佳表现”排名中增加了一个全新类别。
在PVEL测量值的基础上，这么做是为了通过比较组件在两个不同模拟场址的最佳产能表现，对“最佳表现”组件进行排名。
除了从.PAN文件得出的一般性结论外，报告还会讨论双面组件性能。
案例研究
此外，报告还包含了与PVEL的LeTID测试序列相关的案例研究以及最新研究成果。
还有一项新测试与组件背板的可靠性有关。今年，PVEL将再次以案例研究的形式呈现测试及主要研究成果。
热循环
热循环测试顺序有所改变，又回到了600小时循环，而不是此前提高到的800小时循环。除了这一变化外，PVEL还会在一般性结论之外提供关于双面组件性能的讨论。
湿热
PVEL还在严苛的湿热测试方案中增加了稳定硼-氧的步骤，这将使我们对湿热条件下的双面组件性能有更深入的了解。
动态机械负荷
报告中的动态机械负荷测试部分指出了易出现微裂纹的潜在问题，最新的记分卡报告中会讨论该问题。
PVEL还会在测试方案中首次纳入对双面和双玻组件结果的讨论，并会给出到目前为止得出的一些一般性结论。
PID
2019年计分卡测试结果显示， 15家光伏组件制造商物料清单显示，潜在电势诱导衰减(PID)可控，而在2018年测试报告中，这一数字为20。在今年的计分卡测试中，PID敏感度有所上升。不难想象，PVEL会在2020年报告中重点介绍这一进展。
PV Evolution Labs (PVEL)光伏组件业务负责人Tristan Erion-Lorico将在PV Tech主办的TechTalk网络研讨会上发表重要演讲，DNV GL公司全球太阳能行业负责人Dana Olson博士将介绍当前光伏组件质量的发展趋势以及DNV GL是如何使用PVEL测试数据分析组件使用寿命的。
笔者将任网络研讨会的主持人，与大家共享PV Tech “最佳表现”分析报告。此外，笔者还会介绍2020年计分卡较上一版的亮点内容。
会后，光伏组件可靠性记分卡报告可关注公众号并留言获取下载方式。
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